Катрич, Н.П.; Будников, А.Т.; Воробьев, А.Е.; Кривоногов, С.И.; Мирошников, Ю.П.
(Вопросы атомной науки и техники, 2008)
Исследовано влияние криогенной очистки гелия в кристаллизационной камере на скопление микрочастиц второй фазы в сапфире. Показано, что с улучшением очистки гелия плотность частиц уменьшается. При подаче струи очищенного ...