Верцанова, Е.В.
(Наука та інновації, 2013)
Метод дифракции отраженных электронов на растровом электронном микроскопе сегодня применяется в различных областях исследования: в металлообрабатывающей промышленности, аэрокосмической отрасли, атомной,
автомобильной, ...