Вантеев, А.М.; Коробов, А.И.
(Технология и конструирование в электронной аппаратуре, 2003)
Применяемый в производстве СБИС метод тестовых схем предлагается дополнить методикой определения нестабильных во времени элементов физической структуры изделия с использованием модели деградационных процессов. Показана ...