Безбородов, В.И.; Киселев, В.К.; Косяк, О.С.; Кулешов, Е.М.; Нестеров, П.К.; Яновский, М.С.
(Радіофізика та електроніка, 2013)
В данной работе рассмотрен метод рефлектометрии внутреннего отражения при наклонном облучении поверхности углепластиков квазиоптическим (КО) пучком под разными углами через призму внутреннего отражения, расположенную вблизи ...