Копылец, И.А.; Зубарев, Е.Н.; Кондратенко, В.В.; Ананьев, К.А.
(Физическая инженерия поверхности, 2011)
В работе рентгеноструктурными и электронномикроскопическими методами изучались изменения в структуре и фазовом составе многослойной пленочной композиции, состоящей из чередующихся слоев W и B4C с толщиной бислоя 2,5 нм, ...