Плющай, І.В.; Плющай, О.І.; Макара, В.А.
(Металлофизика и новейшие технологии, 2014)
Методом функционала плотности в обобщённом градиентном приближении рассчитаны электронный спектр краевой дислокации в кристаллическом кремнии и электронный спектр сверхъячейки из 64 атомов Si, содержащей примесный атом ...