Алимов, Н.Э.; Зайнолобиддинова, С.М.; Отажонов, С.М.; Халилов, М.М.; Юсупова, Д.А.; Якубова, Ш.
(Журнал физики и инженерии поверхности, 2016)
Изучены спектры тока короткого замыкания в структуре p-CdTe-SiO₂-Si в зависимости от величины внешнего воздействия. Наблюдается смещение спектров в коротковолновую область, вследствие чего в этих структурах изменяются ...