Левенец, В.В.; Щур, А.А.; Стрельницкий, В.Е.; Дудник, С.Ф.
(Физическая инженерия поверхности, 2014)
Разработана методика неразрушающего анализа поверхностных слоев в бинарных образцах в виде пленок из искусственных алмазов, осажденных на подложку из кремния методом CVD, на основе регистрации рентгеновского и γ-излучения ...